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3D 하이브리드 광학 검사 시스템 YRi-V 개요

초고속, 고정밀 3D 검사를 실현하는 모든 시장을 위한 다목적 광학 검사 시스템. 탑재된 동축 조명과 라인업에 추가된 5μm 렌즈는 디바이스 부문의 고정밀 검사를 지원합니다.。

3D 하이브리드 광학 검사 시스템 YRi-V
3D 하이브리드 광학 검사 시스템 YRi-V
  • 초고속 3D 검사
    56.8cm²/초(최적 조건에서)
  • 초고정밀 3D 검사
    8-way 프로젝션
  • 4-way 경사 영상검사
    2000만 화소 4앵글 카메라
  • 디바이스 검사
    5μm 초고해상도 / 동축 조명

기능 및 특장

초고속 3D 검사 56.8cm²/sec(최적 조건하에서)

초고정밀 3D 검사용 8-way 프로젝션

4-way 경사 영상검사 2000만 화소 4앵글 카레라

디바이스 검사를 위한 5μm 초 고해상도 와 동축 조명

해당 생산 현장에 관한 추천 사항

초고속, 초고정밀, 하이스펙 3D 검사를 원하시는 고객님께

 디바이스 분야의 고정밀 검사를 위해 초고해상도인 5μm 렌즈와 동축 조명을 구비하였습니다.

2D 검사 기능

  • 새로운 고속 1200만 화소 카메라와 5μm 동축 광학계를 지원하는 실장기와 같거나 그 이상의 용량을 가진 초고강성 프레임은 높은 반복성을 실현할 것이다.
  • 다양한 분해능, 5μm의 초고해상도(조밀하게 실장된 장치 부품 이상), 7μm(0201mm 이상)의 고해상도, 12μm(0402mm 이상)의 고속을 모두 제공합니다. 검사 이미징의 고화질 외관을 위해 텔레센트릭 렌즈가 장착되어 있습니다.
  • 자동 검사는 세 가지 고급 광학 검사 알고리즘인 휘도, 색도 및 모양의 이미지 추출로 구성할 수 있습니다.
  • 새롭게 추가된 동축광 R, G, B의 분리된 Element R, G, B로 구성된 13개의 이미지는 각각의 3단계 백색 LED(high, middle, low)와 이를 결합할 수 있는 IR의 검사를 특징짓는다.
  • WLCSP의 크랙 검사 등 고정밀 검사를 지원하기 위해 동축 조명과 5μm 렌즈를 라인업에 추가했습니다.
  • CI 조명으로 필렛 모양을 RGB로 표시할 수 있습니다. FOV 방식이라 하더라도 고강성 프레임과 FOV 조합의 이음매 없는 외관으로 대형 부품 검사가 가능합니다.

3D 검사 기능

  • 초고속 3D 검사는 기존 12μm보다 1.6배 빨라진 7μm의 2배 속도를 측정할 수 있다.
  • 8개의 돌출부(4-way + 4-way)로 좁은 인접 영역의 검사 능력을 높여 사각지대 없는 초고정밀 측정 및 형상 검사를 실현합니다.
  • 측정 범위가 확장되어 최대 높이 25mm의 3D 형상 검사를 지원합니다.
  • 땜납에 대한 분할된 와이어 프레임의 묘사는 땜납 모양을 검사하는 것을 가능하게 합니다.
  • 장치용 WCSP의 형상을 재현하는 경우에도 3D 및 2D 검사를 조합하여 사용하면 사용자가 형상을 쉽게 식별할 수 있습니다.

4앵글 카메라

  • 카메라 성능이 5M에서 20M으로 향상되었습니다. 새로 개발된 샤임플러그 렌즈는 섬세한 사시 이미지의 획득을 실현합니다.
  • 2차원과 3차원 영상을 동시에 획득하여 사시 영상을 획득하여 택트 로스를 최소화하고 사용자가 육안으로 결함 여부를 확실하게 확인할 수 있습니다.
  • 자동 검사 데이터는 또한 땜납 및 브리지 검사의 유무와 같은 중요한 시각적 체크 포인트를 지원합니다.

플렉서블 두얼 라인

  • 2, 3, 4 레인은 이동이 가능하여 기계의 라인업을 맞추기에 편리합니다.

자동화/인력 절감 소프트웨어 솔루션

  • 새롭게 디자인된 GUI는 고급 디자인으로 가시성 높은 조작 화면을 구현합니다. 새롭게 개발된 YSUP-PG의 도입은 GERBER 변환, CAM 변환(ODB++), CAD 변환(ASCII 변환)을 지원합니다. 실장기 구성 요소 데이터에서 간단한 변환도 가능합니다. 이제 각 고객이 실제로 사용하는 데이터에서 검사 데이터를 쉽게 생성할 수 있습니다.
  • 검사 프레임 자동 판정, 점등 자동 설정, 자동 위치 보정, 과 판정 감소 등 데이터 튜닝 시간 판정을 자동화하여 운전 시간을 50% 단축했습니다.
  • Data creation/inspection support features using AI for high-end users, such as an automatic component library matching function, a function for creating component libraries very easily, and a secondary determination AI support function (under development), have been enhanced further.
  • DIP 데이터 자동 생성 기능: YAMAHA는 SMT뿐만 아니라 일반 사용을 위해 PCB 뒷면의 관통 구멍 데이터 좌표를 자동으로 할당하는 기능을 개발하여 사용자가 후속 공정에서 PCB의 양면을 검사할 수 있도록 합니다.
  • 마운터 링크 기능 QA 옵션 및 모바일 판단 : 모바일 단말기를 사용하는 사업자에 의해 불량 이미지의 합격/불합격이 결정되어 인건비 절감에 기여합니다.

For customers need high-speed inspection for semiconductor products.

Realize high-speed, high-Accuracy inspections

Many fanctionarities to Inspect semiconductor products

  • The new 25 megapixel camera realizes wide field of view on 7μm and 5μm machines.
  • Coaxial lighting and 3D laser enables to get correct surface information of mirror-surface parts and transparent body parts. These functions realize high 3D inspection performance for semiconductor PCBs.

프로모션 영상

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