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実検査時間の短縮と優れた検査精度を両立 ヤマハ光学式基板検査装置「YVi-LH」 新発売

2008年1月10日発表

 ヤマハ発動機株式会社の社内カンパニーである「IMカンパニー」(所在地:静岡県浜松市、カンパニープレジデント:加藤敏純)は、新開発の撮像システムを採用し、スピーディな検査データ作成が可能なインライン据付タイプの光学式基板検査装置「YVi-LH」を開発し、2008年1月16日より発売する。
  「YVi-LH」は、Lサイズ基板対応の光学式インライン基板検査装置「YVi-L」に新開発の撮像システムを採用することにより、実検査時間を約25%短縮。新たに検査データ作成の簡略化を実現した。また、硬化前の段階で、品質変化点として、印刷状態の変化や、部品搭載位置の変化などの不具合に達しない要因を検出することで、硬化後の最終的な実装品質の確保を実現している。
  なお、「YVi-LH」は、2008年1月16日から18日まで東京ビッグサイト(東京都江東区)で開催されるエレクトロニクス実装関連の展示会「第25回エレクトロテスト・ジャパン」に出展を予定している。

ヤマハ光学式基板検査装置「YVi-LH」

ヤマハ光学式基板検査装置「YVi-LH」

名称

ヤマハ光学式基板検査装置「YVi-LH」

発売予定日

2008年1月16日

価格

オープン価格

初年度販売計画

100台(国内外)

市場背景と製品の概要

 近年、携帯電話やデジタルカメラに代表される小型電子機器の複合化・高機能化が進むとともに、電子部品の小型化と実装基板の高密度化の流れが加速している。このような高機能化の流れは、製造工程における品質確保のニーズをさらに高めており、出荷製品の出口品質確保手段として検査装置のニーズが高まっている。
  また、これまでの検査装置では、検査データ作成の段階で、部品ごとのチューニング負荷の大きさや、良否判定情報の精度不良、実装ライン全体での品質向上のための検査情報の提供などに課題を残していた。
  当社は、表面実装機・印刷機・検査装置など、実装設備のフルラインナップメーカーとしてのアドバンテージを活かし、生産ライン全体での品質確保を目的とした検査工程の改善に取り組んだ。
  「YVi-LH」にオプションで設定された「レーザー測高器」は、従来の光学式基板検査装置が苦手とした、ガルウィングリード部品のリード浮きなどに対して、情報の確度向上を図っている。

製品の特徴

(1)

大型基板対応と検査の高速化

基板サイズL460×W410mm、基板上下高さ制限50mm(下面基準)まで対応可能。新開発の撮像システムを採用することにより、実検査時間を約25%短縮し、高速化を実現。

(2)

「レーザー測高器」をオプション設定

光学式検査に加え、オプションで「レーザー測高器」を設定。搭載済み部品の影響を受けにくく、光学式では判定の難しいリード浮きなどの検査精度が大幅に向上。

(3)

検査データの簡単作成

当社SMT支援ソフトウエアから1クリックで、ステンシル(印刷マスク)のガーバーデータを印刷検査データに、実装機データを実装後・硬化後検査データに変換でき、簡単かつスピーディなデータ作成が行える。

(4)

シリーズ共通のオペレーションとデータ

「YViシリーズ」として、全ての検査機を共通のオペレーションで操作・設定でき、検査データも視野サイズに対して上位互換が可能。

(5)

フラックスの影響を受けない検査

印刷後、ハンダから滲むフラックスによる反射の影響を受けない照明・検査アルゴリズムの組み合わせにより、高精度の検査が可能。当社製印刷機との組み合わせでは2次元検査をハンダ体積の代用特性として管理できる。

(6)

OCR:文字認識の精度向上

画像処理機能の追加により、チップ抵抗の定数など、微小サイズ文字の認識率が大きく改善。誤品・極性・欠品・裏返りなどの検査が可能。

基本仕様

項目

YVi-LH

対象基板寸法

L460×W410mm~L50×W50mm

対象基板厚

0.5~2.0mm

光学撮像装置

高解像度テレセントリックレンズ付きカラーCCDカメラ

解像度/視野角

約19μm/30.4×22.8mm

検査時間

0.19秒/視野 *照明1光源による最適条件下

検査項目

・ハンダ印刷検査

印刷ずれ、にじみ、かすれ、ブリッジ

・部品検査

欠品、位置ずれ、角度ずれ、誤搭載、
極性違い、ブリッジ、文字認識

電源仕様

単相AC200/208/220/230/240 V ±10% 50/60Hz

供給エア源

0.55Mpa以上 清浄乾燥状態

外形寸法

L1,206×W1,250×H1,360mm

本体質量

約800kg

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